Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
gettering
7
гетерування
reverse current
5
зворотний струм
5
варикап
3
defects
2
impurities
2
ohmic contact
2
silicon
2
structural defects
2
varicap
2
дефекти
2
домішки
2
омічний контакт
2
структурні дефекти
2
Cottrell atmosphere
1
Schottky diode
1
X-ray diffraction
1
aluminum
1
annealing
1
crystal lattice
1
diode
1
epitaxial growth
1
heterostructure
1
iron
1
lifetime
1
mass spectrometry
1
nickel atoms
1
oxidation stacking faults
1
rated capacitance
1
-
1
-
2
-
3за авторством Vikulin, I. M., Litvinenko, V. N., Shutov, S. V., Maronchuk, A. I., Demenskiy, A. N., Glukhova, V. I.Отримати повний текст
Опубліковано 2018
Стаття -
4за авторством Litvinenko, Victor, Baganov, Yevgen, Vikulin, Ivan, Gorbachev, VictorОтримати повний текст
Опубліковано 2020
Стаття -
5
-
6за авторством Gamov, D. V., Gudymenko, O. I., Kladko, V. P., Litovchenko, V. G., Melnik, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. G., Polishchuk, Yu. O., Romaniuk, B. M., Chernenko, V. V., Nasekа, V. M.Отримати повний текст
Опубліковано 2018
Стаття -
7за авторством Litvinenko, Viktor, Baganov, Yevgen, Vikulin, Ivan, Gorbachev, VictorОтримати повний текст
Опубліковано 2021
Стаття