залiзо X-ray diffraction 1 defects 1 ferrum 1 flux-weighted average yields 1 gamma-spectrometry 1 gettering 1 iron 1 lifetime 1 mass spectrometry 1 nickel 1 photoactivation method 1 silicon 1 гамма-спектрометрiя 1 гетерування 1 дефекти 1 кремнiй 1 мас-спектрометрiя 1 нiкель 1 рентгенiвська дифрактометрiя 1 середньозваженi виходи 1 фотоактивацiйний метод 1 час життя 1