Showing
1 - 3
results of
3
for search '
Rubtsevich, I. I.
'
Skip to content
VuFind
Your Account
Log Out
Login
Language
English
Deutsch
Українська
Open Science Harvester of NAS of Ukraine
All Fields
Title
Journal Title
Author
Subject
Description
Tag
Full text
Find
Advanced
Author
Rubtsevich, I. I.
Showing
1 - 3
results of
3
for search '
Rubtsevich, I. I.
'
, query time: 0.01s
Refine Results
Sort
Relevance
Date Descending
Date Ascending
Call Number
Author
Title
Select Page | with selected:
Email
Export
Print
Save
Select result number 1
1
Исследование свойств пленок нитрида и оксида кремния, полученных методом плазмохимического осаждения на кремниевую подложку...
by
Rubtsevich, I. I.
,
Solovyov, Ya. A.
,
Vysotskiy, V. B.
,
Dudkin, A. I.
,
Kovalchuk, N. S.
Published 2011
Get full text
Article
Save to List
Saved in:
Select result number 2
2
Повышение надежности диодов Шоттки при воздействии разрядов cтатического электричества
by
Sоlоdukha, V. A.
,
Turtsevich, A. S.
,
Solov’yov, J. A.
,
Rubtsevich, I. I.
,
Kerentsev, A. F.
Published 2012
Get full text
Article
Save to List
Saved in:
Select result number 3
3
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром...
by
Turtsevich, A. S.
,
Rubtsevich, I. I.
,
Solov’yov, Ya. А.
,
Vas’kov, O. S.
,
Kononenko, V. K.
,
Niss, V. S.
,
Kerentsev, A. F.
Published 2012
Get full text
Article
Save to List
Saved in:
Select Page | with selected:
Email
Export
Print
Save
Search Tools:
RSS Feed
–
Email Search
Related Subjects
Schottky diode
crystal attachment
dielectric film
electrostatic discharge
internal mechanical stresses
microelectromechanical systems
potential barrier
silicon nitride
silicon oxide
thermal resistance
transient impedance-spectrometer
transistor
внутренние механические напряжения
диод Шоттки
диэлектрические пленки
микроэлектромеханические системы
нитрид кремния
оксид кремния
посадка кристалла
потенциальный барьер
разряд статического электричества
релаксационный импеданс-спектрометр
тепловое сопротивление
транзистор