Showing
1 - 8
results of
8
for search '
Turtsevich, A.S.
'
Skip to content
VuFind
Your Account
Log Out
Login
Language
English
Deutsch
Українська
All Fields
Title
Journal Title
Author
Subject
Description
Tag
Find
Advanced
Author
Turtsevich, A.S.
Showing
1 - 8
results of
8
for search '
Turtsevich, A.S.
'
, query time: 0.02s
Refine Results
Sort
Relevance
Date Descending
Date Ascending
Call Number
Author
Title
Select Page | with selected:
Email
Export
Print
Save
Select result number 1
1
Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system
by
Turtsevich, A.S.
,
Nalivaiko, O.Y.
Published 2015
Get full text
Article
Save to List
Saved in:
Select result number 2
2
Осаждение пленок борофосфоросиликатного стекла с использованием системы ТЭОС – диметилфосфит – триметилборат...
by
Turtsevich, A. S.
,
Nalivaiko, O. Yu.
Published 2015
Get full text
Article
Save to List
Saved in:
Select result number 3
3
Получение тонких пленок Si3N4 при пониженном давлении на пластинах диаметром до 200 мм
by
Nalivaiko, O. Yu.
,
Turtsevich, A. S.
Published 2012
Get full text
Article
Save to List
Saved in:
Select result number 4
4
Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system
by
Turtsevich, A.S.
,
Nalivaiko, O.Y.
Published 2015
Get full text
Article
Save to List
Saved in:
Select result number 5
5
Мировые тенденции развития микроэлектроники и место Республики Беларусь в этом процессе
by
Belous, A. I.
,
Pilipenko, V. A.
,
Turtsevich, A. S.
,
Shvedov, S. V.
Published 2012
Get full text
Article
Save to List
Saved in:
Select result number 6
6
Методы и механизмы геттерирования кремниевых структур в производстве интегральных микросхем
by
Pilipenko, V. A.
,
Gorushko, V. A.
,
Petlitskiy, A. N.
,
Ponaryadov, V. V.
,
Turtsevich, A. S.
,
Shvedov, S. V.
Published 2013
Get full text
Article
Save to List
Saved in:
Select result number 7
7
Повышение надежности диодов Шоттки при воздействии разрядов cтатического электричества
by
Sоlоdukha, V. A.
,
Turtsevich, A. S.
,
Solov’yov, J. A.
,
Rubtsevich, I. I.
,
Kerentsev, A. F.
Published 2012
Get full text
Article
Save to List
Saved in:
Select result number 8
8
Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром...
by
Turtsevich, A. S.
,
Rubtsevich, I. I.
,
Solov’yov, Ya. А.
,
Vas’kov, O. S.
,
Kononenko, V. K.
,
Niss, V. S.
,
Kerentsev, A. F.
Published 2012
Get full text
Article
Save to List
Saved in:
Select Page | with selected:
Email
Export
Print
Save
Search Tools:
RSS Feed
–
Email Search
Related Subjects
deposition
Материалы электроники
Schottky diode
borophosphatesilicate glass
capacitor
crystal attachment
dislocation
electrostatic discharge
element-component base
getter
gettering center
high-tech products
laser
microelectronics
potential barrier
rapidly diffusing impurity
silicon
silicon nitride
stacking fault
thermal resistance
topological relief planarity
transient impedance-spectrometer
transistor
trends
world market
борофосфоросиликатное стекло
быстродиффундирующая примесь
геттер
дефект упаковки
диод Шоттки