Показ 1 - 8 результатів із 8 для пошуку 'Turtsevich, A.S.', час виконання запиту: 0.01сек. Уточнити результати
  1. 1
    Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system
    за авторством Turtsevich, A.S., Nalivaiko, O.Y.
    Опубліковано 2015
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  2. 2
    Осаждение пленок борофосфоросиликатного стекла с использованием системы ТЭОС – диметилфосфит – триме­тил­борат
    за авторством Turtsevich, A. S., Nalivaiko, O. Yu.
    Опубліковано 2015
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  3. 3
    Получение тонких пленок Si3N4 при пониженном давлении на пластинах диаметром до 200 мм
    за авторством Nalivaiko, O. Yu., Turtsevich, A. S.
    Опубліковано 2012
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  4. 4
    Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system
    за авторством Turtsevich, A.S., Nalivaiko, O.Y.
    Опубліковано 2015
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  5. 5
    Мировые тенденции развития микроэлектроники и место Республики Беларусь в этом процессе
    за авторством Belous, A. I., Pilipenko, V. A., Turtsevich, A. S., Shvedov, S. V.
    Опубліковано 2012
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  6. 6
    Методы и механизмы геттерирования кремниевых структур в производстве интегральных микросхем
    за авторством Pilipenko, V. A., Gorushko, V. A., Petlitskiy, A. N., Ponaryadov, V. V., Turtsevich, A. S., Shvedov, S. V.
    Опубліковано 2013
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  7. 7
    Повышение надежности диодов Шоттки при воздействии разрядов cтатического элек­три­чес­тва
    за авторством Sоlоdukha, V. A., Turtsevich, A. S., Solov’yov, J. A., Rubtsevich, I. I., Kerentsev, A. F.
    Опубліковано 2012
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  8. 8
    Исследование качества пайки кристаллов мощных транзисторов релаксационным импеданс-спектрометром
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
Інструменти для пошуку: Отримати RSS-стрічку – Відправити пошук е-поштою