Reliability of AC thick-film electroluminescent lamps

The reliability of AC thick-film EL devices has been studied. The AC thickfilm EL devices were fabricated by Novatech Inc. using the industrial print screen technology. The analysis of reasons for failure has been proposed. The dependence of EL lamp parameters on physical properties of the device...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2009
Автори: Vlaskin, V., Vlaskina, S., Berezhinsky, L., Svechnikov, G.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2009
Назва видання:Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/118690
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Reliability of AC thick-film electroluminescent lamps / V. Vlaskin, S. Vlaskina, L. Berezhinsky, G. Svyechnikov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2009. — Т. 12, № 2. — С. 173-177. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine