Харвестер відкритої науки НАН України

Determination of parameters of cadmium telluride films on silicon by the methods of main angle and multiangular ellipsometry

за авторством Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Vuichyk, M.V., Sizov, F.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2006)

Investigation of cadmium telluride films on silicon substrate

за авторством Odarych, V.A., Sarsembaeva, A.Z., Sizov, F.F., Vuichyk, M.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2005)

Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry

за авторством Kornienko, K.N., Odarych, V.A., Poperenko, L.V., Vuichik, N.V.
Опубліковано в: Functional Materials (2006)

Структура окисної плівки на поверхні поруватого кремнію

за авторством Zavalistyi, O. I., Makarenko, O. V., Odarych, V. A., Yampolskyi, A. L.
Опубліковано 2020

Прибор и методы измерения параметров и степени однородности пленочных структур

за авторством Makara, V. A., Odarych, V. A., Kepich, T. Yu., Preobragenskaya, T. D., Rudenko, O. V.
Опубліковано 2009

Optical parameters of the film naturally formed on the surface of cadmium telluride single crystals

за авторством Odarych, V.A., Poperenko, L.V., Yurgelevych, I.V., Gnatyuk, V.A., Toru Aoki
Опубліковано в: Functional Materials (2013)