Результати пошуку - Kladko, V. P.
- Показ 1 - 20 результатів із 31
- На наступну сторінку
-
1
-
2
Modeling of X-ray rocking curves for layers after two-stage ion-implantation за авторством Liubchenko, O.I., Kladko, V.P., Gudymenko, O.Yo.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2017)Отримати повний текст
Стаття -
3
Structural and composition irregularities in GaAs:Si/GaAs films grown by liquid-phase epitaxy за авторством Kladko, V.P., Datsenko, L.I., Maksimenko, Z.V., Lytvyn, O.S., Prokopenko, I.V., Zytkiewicz, Z.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2000)Отримати повний текст
Стаття -
4
X-ray diffraction investigation of GaN layers on Si(111) and Al₂O₃ (0001) substrates за авторством Safriuk, N.V., Stanchu, G.V., Kuchuk, A.V., Kladko, V.P., Belyaev, A.E., Machulin, V.F.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2013)Отримати повний текст
Стаття -
5
Anisotropy of elastic deformations in multilayer (In,Ga)As/GaAs structures with quantum wires: X-ray diffractometry study за авторством Strelchuk, V.V., Kladko, V.P., Yefanov, O.M., Kolomys, O.F., Gudymenko, O.I., Valakh, M.Ya.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2005)Отримати повний текст
Стаття -
6
-
7
Дослідження пасток в гетероструктурах AlGaN/GaN ультразвуковими коливаннями за авторством Kaliuzhnyi, V.V., Liubchenko, O.I., Tymochko, M.D., Olikh, Y.M., Kladko, V.P., Belyaev, A.E.
Опубліковано 2021
Отримати повний текст
Стаття -
8
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures за авторством Kladko, V.P., Kuchuk, A.V., Safryuk, N.V., Machulin, V.F., Belyaev, A.E., Konakova, R.V., Yavich, B.S.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2010)Отримати повний текст
Стаття -
9
Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry за авторством Fodchuk, І.М., Dovganyuk, V.V., Litvinchuk, Т.V., Kladko, V.P., Slobodian, М.V., Gudymenko, O.Yo., Swiatek, Z.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2010)Отримати повний текст
Стаття -
10
Modification of properties of the glass-Si₃N₄-Si-SiO₂ structure at laser treatment за авторством Konakova, R.V., Kladko, V.P., Lytvyn, O.S., Okhrimenko, O.B., Konoplev, B.G., Svetlichnyi, A.M., Lissotschenko, V.N.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2009)Отримати повний текст
Стаття -
11
Рефлектометричнi дослiдження нанопористих плiвок з масивом наночастинок золота за авторством Kladko, V. P., Gudymenko, O. Y., Kriviy, S. B., Litvin, P. M., Kaganovich, E. B., Krishchenko, I. M., Manoilov, E. G.
Опубліковано 2018
Отримати повний текст
Стаття -
12
The effect of ion implantation on structural damage in compositionally graded AlGaN layers за авторством Liubchenko, O.I., Kladko, V.P., Stanchu, H.V., Sabov, T.M., Melnik, V.P., Kryvyi, S.B., Belyaev, A.Ye.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2019)Отримати повний текст
Стаття -
13
Особливості зародження та упорядкування GeSi наноострівців у багатошарових структурах, сформованих на Si та Si1-xGex буферних шарах... за авторством Yukhymchuk, V.O., Valakh, M.Ya., Kladko, V.P., Slobodian, M.V., Gudymenko, O.Yo., Krasilnik, Z.F., Novikov, A.V.
Опубліковано 2022
Отримати повний текст
Стаття -
14
Influence of small miscuts on self-ordered growth of Ge nanoislands за авторством Gudymenko, O.Yo., Kladko, V.P., Yefanov, O.M., Slobodian, M.V., Polischuk, Yu.S., Krasilnik, Z.F., Lobanov, D.V., Novikov, А.А.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2011)Отримати повний текст
Стаття -
15
Heat-resistant barrier and ohmic contacts based on TiBx and ZrBx interstitial phases to microwave diode structures за авторством Belyaev, A.E., Boltovets, N.S., Ivanov, V.N., Kladko, V.P., Konakova, R.V., Kudryk, Ya.Ya., Milenin, V.V., Sheremet, V.N.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2008)Отримати повний текст
Стаття -
16
Investigation of superlattice structure parameters using quasi-forbidden reflections за авторством Kladko, V.P., Datsenko, L.I., Korchovyi, A.A., Machulin, V.F., Lytvyn, P.M., Shalimov, A.V., Kuchuk, A.V., Kogutyuk, P.P.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2003)Отримати повний текст
Стаття -
17
Influence of microwave radiation on relaxation processes in silicon carbide за авторством Bacherikov, Yu.Yu., Goroneskul, V.Yu., Gudymenko, O.Yo., Kladko, V.P., Kolomys, O.F., Krishchenko, I.M., Okhrimenko, O.B., Strelchuk, V.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2020)Отримати повний текст
Стаття -
18
Bio-SiC ceramics coated with hydroxyapatite using gas-detonation deposition: An alternative to titanium-based medical implants за авторством Klyui, M.I., Temchenko, V.P., Gryshkov, O.P., Dubok, V.A., Kladko, V.P., Kuchuk, A.V., Dzhagan, V.M., Yukhymchuk, V.O., Kiselov, V.S.
Опубліковано в: Functional Materials (2013)Отримати повний текст
Стаття -
19
Oxygen ion-beam modification of vanadium oxide films for reaching a high value of the resistance temperature coefficient за авторством Sabov, T.M., Oberemok, O.S., Dubikovskyi, O.V., Melnik, V.P., Kladko, V.P., Romanyuk, B.M., Popov, V.G., Gudymenko, O.Yo., Safriuk, N.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2017)Отримати повний текст
Стаття -
20
Deformation state of short-period AlGaN/GaN superlattices at different well-barrier thickness ratios за авторством Kladko, V.P., Safriuk, N.V., Stanchu, H.V., Kuchuk, A.V., Melnyk, V.P., Oberemok, A.S., Kriviy, S.B., Maksymenko, Z.V., Belyaev, A.E., Yavich, B.S.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2014)Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
Semiconductor physics
-
Optics
2DEG
Characterization and properties
Hetero- and low-dimensional structures
Semiconductor Physics
Sensors
X-ray diffraction
X-ray reflectometry
defects
electronic transport
film porosity
gallium nitride
gettering
gold nanoparticles
heterostructure
iron
lifetime
mass spectrometry
nanocomposite films
plasmonics
pulsed laser deposition method
silicon
ultrasound
Строение и свойства наноразмерных и мезоскопических материалов
гетероструктура
гетерування
двовимiрний електронний газ (2DEG)
дефекти