Borophosphosilicate glass component analysis using secondary neutral mass spectrometry

за авторством Oberemok, O., Lytvyn, P.
Опубліковано 2002

AES and XPS characterization of TiN layers formed and modified by ion implantation

за авторством Melnik, V., Popov, V., Kruger, D., Oberemok, O.
Опубліковано 1999

Ultrasound effect on radiation damages in boron implanted silicon

за авторством Romanjuk, B., Krüger, D., Melnik, V., Popov, V., Olikh, Ya., Soroka, V., Oberemok, O.
Опубліковано 2000

Механiзми модифiкацiї профiлiв розподiлу домiшок при мас-спектрометричному аналiзi багатошарових наноструктур...

за авторством Efremov, A. A., Litovchenko, V. G., Melnik, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. G., Romanyuk, B. M.
Опубліковано 2019

Influence of deposition rate and substrate temperature on structure and optical features of NiO thin film

за авторством Oberemok, O.S., Sabov, T.M., Lisovskyy, I.P., Khacevych, I.M., Gudymenko, O.Yo., Nikirin, V.A., Voitovych, M.V.
Опубліковано 2016

Formation of silicon nanoclusters in buried ultra-thin oxide layers

за авторством Oberemok, O.S., Litovchenko, V.G., Gamov, D.V., Popov, V.G., Melnik, V.P., Gudymenko, O.Yo., Nikirin, V.A., Khatsevich, І.M.
Опубліковано 2011

Light-induced mass transport in amorphous chalcogenides/gold nanoparticles composites

за авторством Trunov, M.L., Lytvyn, P.M., Nagy, P.M., Oberemok, O.S., Durkot, M.O., Tarnaii, A.A., Prokopenko, I.V., Rubish, V.M.
Опубліковано 2013

Дослiдження рекомбiнацiйних характеристик Cz-кремнiю, iмплантованого iонами залiза

за авторством Gamov, D. V., Gudymenko, O. I., Kladko, V. P., Litovchenko, V. G., Melnik, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. G., Polishchuk, Yu. O., Romaniuk, B. M., Chernenko, V. V., Nasekа, V. M.
Опубліковано 2018