Suchergebnisse - Oberemok, O.S.
- Treffer 1 - 10 von 10
-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
-
6
-
7
Formation of silicon nanoclusters in buried ultra-thin oxide layers von Oberemok, O.S., Litovchenko, V.G., Gamov, D.V., Popov, V.G., Melnik, V.P., Gudymenko, O.Yo., Nikirin, V.A., Khatsevich, І.M.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2011)Volltext
Artikel -
8
Light-induced mass transport in amorphous chalcogenides/gold nanoparticles composites von Trunov, M.L., Lytvyn, P.M., Nagy, P.M., Oberemok, O.S., Durkot, M.O., Tarnaii, A.A., Prokopenko, I.V., Rubish, V.M.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2013)Volltext
Artikel -
9
Oxygen ion-beam modification of vanadium oxide films for reaching a high value of the resistance temperature coefficient von Sabov, T.M., Oberemok, O.S., Dubikovskyi, O.V., Melnik, V.P., Kladko, V.P., Romanyuk, B.M., Popov, V.G., Gudymenko, O.Yo., Safriuk, N.V.
Veröffentlicht in Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2017)Volltext
Artikel -
10
Дослiдження рекомбiнацiйних характеристик Cz-кремнiю, iмплантованого iонами залiза von Gamov, D. V., Gudymenko, O. I., Kladko, V. P., Litovchenko, V. G., Melnik, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. G., Polishchuk, Yu. O., Romaniuk, B. M., Chernenko, V. V., Nasekа, V. M.
Veröffentlicht 2018
Volltext
Artikel
Suchwerkzeuge:
Ähnliche Schlagworte
mass spectrometry
мас-спектрометрiя
-
Hetero- and low-dimensional structures
Technology
X-ray diffraction
defects
depth profile
gettering
iron
iонне розпилення
lifetime
multilayer structure
silicon
simulation
sputtering
багатошаровi структури
гетерування
дефекти
залiзо
кремнiй
моделювання
профiлi розподiлу
рентгенiвська дифрактометрiя
час життя