Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
Электронные средства: исследования, разработки 130 Материалы электроники 125 Технологические процессы и оборудование 112 Библиография 105 Функциональная микро- и наноэлектроника 101 Сенсоэлектроника 82 Обеспечение тепловых режимов 64 Техническая политика 53 Проектирование. Конструирование 51 Технология производства 49 Системы передачи и обработки сигналов 47 СВЧ-техника 35 Электронная аппаратура: исследования, разработки 34 Метрология. Стандартизация 29 Интегральные схемы и полупроводниковые приборы 26 Материалы для микроэлектроники 26 Функциональная микроэлектроника 24 Методи та системи оптико-електронної і цифрової обробки зображень та сигналів 23 Компоненты для электронной аппаратуры 21 Энергетическая микроэлектроника 21 Новые компоненты для электронной аппаратуры 20 Техника и технологии СВЧ 20 Энергетическая электроника 17 Биомедицинская электроника 16 Электроника и экология 14 Системи технічного зору і штучного інтелекту з обробкою та розпізнаванням зображень 13 Технологические процессы 13 Датчики 12 К истории науки и техники 12 Научно-промышленные центры СНГ 12
Альтернативи пошуку:
фізики » фізико (Розширити пошук)
Показ 61 - 80 результатів із 3,357 для пошуку 'Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України', час виконання запиту: 0.04сек. Уточнити результати
  1. 61
    Density of heavy hole states of Hg₁-xCdxTe in an isotropic nonparabolic approximation by exact measurements of electron concentration
    за авторством Bogoboyashchyy, V.V.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  2. 62
    Microwave-induced optical non-linearity of amino acid crystals
    за авторством Berezhinsky, L.I., Dovbeshko, G.I., Obukhovsky, V.V.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  3. 63
    Investigations of impurity gettering in multicrystalline silicon
    за авторством Evtukh, A.A., Litovchenko, V.G., Oberemok, A.S., Popov, V.G., Rassamakin, Yu.V., Romanyuk, B.N., Volkov, S.G.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  4. 64
    The impact of laser shock waves on anodic oxide - compound semiconductor interface
    за авторством Yakovyna, V.S., Berchenko, N.N., Nikiforov, Yu.N.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  5. 65
    Features of optical properties of ferromagnetic semiconductors with dynamic laser-induced gratings
    за авторством Semchuk, O.Yu., Veskliarskii, R.Z., Kosharskii, K.G.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  6. 66
    SPR-spectroscopy of protein molecules adsorbed in microwave field
    за авторством Berezhinsky, L.I., Chegel', V.I., Shirshov, Yu.M., Dovbeshko, G.I., Melnichuk, O.V.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  7. 67
    Hopping conductivity in GaSe monocrystals at low temperatures
    за авторством Pashayev, A.M., Gadjiyev, A.R., Tagiyev, T.B., Abbasova, T.M.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  8. 68
    Optical transmittance of 2D macroporous silicon structures
    за авторством Karachevtseva, L.A., Lytvynenko, O.O., Malovichko, E.O., Stronska, O.J., Busaneva, E.V., Gorchinsky, O.D.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  9. 69
    Thickness dependences of optical constants for thin layers of some metals and semiconductors
    за авторством Kovalenko, S.A., Lisitsa, M.P.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  10. 70
    Dynamics of photoinduced instability in ferroelectric photorefractive crystals
    за авторством Morozovska, A.N., Obukhovsky, V.V., Lemeshko, V.V.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  11. 71
    Investigation of ArF* excimer laser VUV radiation action on sapphire
    за авторством Baschenko, S.M., Gochelashvili, K.S., Zakirov, R.M., Klimov, V.I., Mikhkelsoo, V.T., Prokhorov, O.M.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  12. 72
    Ordering of lateral nonuniformity of TiBx film and transition layer in the TiBx-GaAs system
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  13. 73
    Electrooptical properties of liquid crystal n-pentil-n´-cyanobifenil with J-aggregates of astrofloxine
    за авторством Piryatinski, Yu.P., Furier, M.S., Nazarenko, V.G.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  14. 74
    Experimental investigations and computer modeling of the photochemical processes in Ag-As₂S₃ structures using surface plasmon resonance spectroscopy
    за авторством Chegel’, V.I., Shirshov, Yu.M., Kostyukevich, S.O., Shepeliavy, P.E., Chegel', Yu.V.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  15. 75
    The influence of heating temperature and sizes of components upon stresses and defect formation in semiconductor structures under isothermal heating
    за авторством Agueev, O.A., Svetlichny, A.M.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  16. 76
    Study of postimplantation annealing of SiC
    за авторством Avramenko, S.F., Kiselev, V.S., Romanyuk, B.N., Valakh, M.Ya.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  17. 77
    Optical and protective properties of different type diamond and diamond-like carbon films
    за авторством Semikina, T.V., Shmyryeva, A.N.
    Опубліковано 2001
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  18. 78
    Investigation of electrical c haracteristics of heteroepitaxial structures as a function of microrelief and manufacturing technology features
    за авторством Dmitruk, N.L., Karimov, A.V., Konakova, R.V., Kudryk, Ya.Ya., Sachenko, A.V.
    Опубліковано 2005
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  19. 79
    Effect of internal electrical field on compositional dependence of p-n junction depth in ion milled p-CdxHg₁₋xTe
    за авторством Izhnin, I.I., Bogoboyashchyy, V.V., Kurbanov, K.R., Mynbaev, K.D., Ryabikov, V.M.
    Опубліковано 2005
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
  20. 80
    Zinc oxide nanoparticles fabricated in the porous silica matrix by the sublimation method
    за авторством Rudko, G.Yu., Kovalenko, S.A., Gule, E.G., Bobyk, V.V., Solomakha, V.M., Bogoslovskaya, A.B.
    Опубліковано 2015
    Отримати повний текст
    Стаття
    Додати у Вибране
    Збережено в:
Інструменти для пошуку: Отримати RSS-стрічку – Відправити пошук е-поштою – Зберегти пошук – Розклад для Розсилок: Не застосовувати