Результати пошуку - Konakova, R. V.
- Показ 1 - 20 результатів із 60
- На наступну сторінку
-
1
-
2
-
3
-
4
Heat-resistant ohmic and barrier contacts for GaAs-based microwave devices за авторством Ivanov, V.N., Konakova, R.V., Milenin, V.V., Stovpovoi, M.A.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2003)Отримати повний текст
Стаття -
5
-
6
-
7
Investigation of electrical c haracteristics of heteroepitaxial structures as a function of microrelief and manufacturing technology features за авторством Dmitruk, N.L., Karimov, A.V., Konakova, R.V., Kudryk, Ya.Ya., Sachenko, A.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2005)Отримати повний текст
Стаття -
8
Радиационная технология улучшения омических контактов к элементам электронной техники за авторством Konakova, R. V., Kolyadina, Е. Yu., Matveeva, L. А., Nelyuba, P. L., Shynkarenko, V. V.
Опубліковано 2010Отримати повний текст
Стаття -
9
Peculiarities of the study of Au-Ti-Pd-n⁺-n-n⁺-Si multilayer contact structure to avalanche transit-time diodes за авторством Romanets, P.M., Konakova, R.V., Boltovets, M.S., Basanets, V.V., Kudryk, Ya.Ya., Slipokurov, V.S.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2019)Отримати повний текст
Стаття -
10
-
11
Temperature dependence of contact resistance of Au−Ti−Pd2Si−n⁺ -Si ohmic contacts за авторством Belyaev, A.E., Boltovets, N.S., Konakova, R.V., Kudryk, Ya.Ya., Sachenko, A.V., Sheremet, V.N.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2010)Отримати повний текст
Стаття -
12
The features of structural-impurity ordering of interfaces in Ta₂O₅-p-Si heterostructures (exposed to microwave pretreatment and aging) induced by further microwave treatment за авторством Kolyadina, E.Yu., Konakova, R.V., Matveeva, L.A., Mitin, V.F., Shynkarenko, V.V., Atanassova, E.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2008)Отримати повний текст
Стаття -
13
Properties of SiO₂-GaAs and Au-Ti-SiO₂-GaAs structures used in production of transmission lines за авторством Boltovets, N.S., Kashin, G.N., Konakova, R.V., Lyapin, V.G., Milenin, V.V., Soloviev, E.A.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2002)Отримати повний текст
Стаття -
14
Optically controlled 2D tunnelling in GaAs delta-doped p-n junction за авторством Vitusevich, S. A., Forster, A., Belyaev, A. E., Glavin, B. A., Indlekofer, K. M., Luth, H., Konakova, R. V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (1999)Отримати повний текст
Стаття -
15
Interface features of SiO₂/SiC heterostructures according to methods for producing the SiO₂ thin films за авторством Bacherikov, Yu.Yu., Boltovets, N.S., Konakova, R.V., Kolyadina, E.Yu., Ledn’ova, T.M., Okhrimenko, O.B.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2012)Отримати повний текст
Стаття -
16
Effect of microwave radiation on optical transmission spectra in SiO₂/SiC structures за авторством Bacherikov, Yu.Yu., Konakova, R.V., Kolyadina, E.Yu., Kocherov, A.N., Okhrimenko, O.B., Svetlichnyi, A.M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2002)Отримати повний текст
Стаття -
17
Optical properties of thin erbium oxide films formed by rapid thermal annealing on SiC substrates with different structures за авторством Bacherikov, Yu.Yu., Konakova, R.V., Okhrimenko, O.B., Berezovska, N.I., Kapitanchuk, L.M., Svetlichnyi, A.M.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2017)Отримати повний текст
Стаття -
18
Оптичнi властивостi епiтаксiйних плiвок GaN, що перебували пiд дiєю мiкрохвильового опромiнення за авторством Belyaev, A. E., Klyui, N. I., Konakova, R. V., Luk’yanov, A. M., Sveshnikov, Yu. M., Klyui, A. M.
Опубліковано 2018
Отримати повний текст
Стаття -
19
X-ray diffraction study of deformation state in InGaN/GaN multilayered structures за авторством Kladko, V.P., Kuchuk, A.V., Safryuk, N.V., Machulin, V.F., Belyaev, A.E., Konakova, R.V., Yavich, B.S.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2010)Отримати повний текст
Стаття -
20
Some aspects of thermal resistance measurement technique for IMPATT and light-emitting diodes за авторством Belyaev, A.E., Boltovets, N.S., Konakova, R.V., Kudryk, Ya.Ya., Sorokin, V.M., Sheremet, V.N., Shynkarenko, V.V.
Опубліковано в: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics (2011)Отримати повний текст
Стаття
Інструменти для пошуку:
Пов'язані теми
Semiconductor physics
Semiconductor Physics
-
Gunn diode
Sensors
broadening parameter
cadmium telluride
cathode contact
electroreflectance
epitaxial film
fullerene films
gallium nitride
indium phosphide
internal strain
metallization
microwave annealing
microwave radiation
microwave treatment
ohmic contact
photoluminescence
внутрiшня деформацiя
диод Ганна
електровiдбивання
епiтаксiйна плiвка
катодный контакт
мiкрохвильова обробка
металлизация
микроволновое излучение
микроволновый отжиг
нiтрид галiю